Atom kuchli mikroskoplar - Физика - Презентации

Информация о документе

Цена	3000UZS
Размер	1.4MB
Покупки	0
Дата загрузки	29 Январь 2024
Расширение	pptx
Раздел	Презентации
Предмет	Физика

Atom kuchli mikroskoplar

Купить

ATOM KUCHLI MIKROSKOPLAR

• AFM namuna yuzasida kichik konsolni skanerlash orqali tasvirlarni hosil qiladi. Konsol uchidagi o'tkir uchi sirt bilan aloqa qilib, konsolni egib, fotodiodga aks etgan lazer nuri miqdorini o'zgartiradi. Keyin konsol balandligi javob signalini tiklash uchun o'rnatiladi, natijada o'lchangan konsol balandligi sirtni kuzatadi. • Atom kuchini mikroskopi (AFM) yoki skanerlash kuchi mikroskopi (SFM) juda yuqori aniqlikdagi turi skanerlash prob mikroskopi (SPM), a fraktsiyalari tartibi bo'yicha namoyish etilgan piksellar soniga ega nanometr, dan 1000 martadan ko'proq yaxshi optik difraksiya- chegara.

AFM UCHTA ASOSIY QOBILIYATGA EGA: kuchni o'lchash topografik tasvirlash manipulyatsiya.

Kuchni o'lchashda AFMlar zond va namuna orasidagi kuchlarni o'zaro ajratish funktsiyasi sifatida o'lchash uchun ishlatilishi mumkin. Buni bajarish uchun qo'llash mumkin kuch spektroskopiyasi , namuna kabi namunaning mexanik xususiyatlarini o'lchash uchun Yosh moduli , qattiqlik o'lchovi. Tasvirga olish uchun probning unga namuna soladigan kuchlarga reaktsiyasi yordamida yuqori aniqlikda namuna yuzasining uch o'lchovli shakli (topografiyasi) tasvirini hosil qilish mumkin. Bunga erishiladi raster skanerlash namunaning uchiga nisbatan pozitsiyasi va doimiy prob va namunadagi o'zaro ta'siriga mos keladigan zond balandligini qayd etish Manipulyatsiyada, uchi va namunasi orasidagi kuchlar namunaning xususiyatlarini boshqariladigan usulda o'zgartirish uchun

RASTRLI SKANERLASH - RASTER SCAN A raster skanerlash , yoki raster skanerlash , televizordagi tasvirni qayta tiklash va tiklashning to'rtburchaklar shakli. O'xshashlik bilan atama uchun ishlatiladi raster grafikalar , aksariyat kompyuterlarda ishlatiladigan tasvirni saqlash va uzatish tartibi bitmap tasvir tizimlari. So'z raster lotincha so'zdan kelib chiqqan rastrum (rake), dan olingan radere (qirib tashlamoq) Shuningdek qarang rastrum , musiqiy rasm chizish uchun asbob xodimlar safi .

• Chapdagi atom kuchi mikroskopi, o'ng tomonida boshqaruvchi kompyuter • Atom kuchini mikroskopi[1] (AFM) - bu bir turi skanerlash prob mikroskopi (SPM), a fraktsiyalari tartibi bo'yicha namoyish etilgan piksellar soniga ega nanometr, dan 1000 martadan ko'proq yaxshi optik difraktsiya chegarasi. Ma'lumotlar mexanik prob yordamida sirtni "his qilish" yoki "tegish" orqali to'planadi. Pyezoelektrik (elektron) buyruqdagi kichik, ammo aniq va aniq harakatlarni osonlashtiradigan elementlar aniq skanerlashni ta'minlaydi.

KONFIGURATSIYA AFM ning odatiy konfiguratsiyasi. • 1) : Konsol, (2) : Konsolni qo'llab- quvvatlash, (3) : Piezoelektrik element (konsolni o'z chastotasida tebranish uchun), (4) : Maslahat (Konsolning uchi aniqlangan, prob vazifasini bajaradi), (5) : Konsolning burilish va harakatlanish detektori, • (6) : AFM tomonidan o'lchanadigan namuna, (7) : xyz drayveri,

DETEKTOR • AFM detektori (5) konsolning burilishini (muvozanat holatiga nisbatan siljishini) o'lchaydi va uni elektr signaliga aylantiradi. Ushbu signalning intensivligi konsolning siljishi bilan mutanosib bo'ladi. • Aniqlashning turli usullaridan foydalanish mumkin, masalan. interferometriya, optik ushlagichlar, pyezoresistiv usul, piezoelektrik usul va STM asosidagi detektorlar

• AFM IBM olimlari tomonidan 1985 yilda ixtiro qilingan. AFM kashshofi, tunnel mikroskopini skanerlash (STM) tomonidan ishlab chiqilgan Gerd Binnig va Geynrix Rorer 1980-yillarning boshlarida IBM Research - Tsyurix , rivojlanish ularni 1986 yilga olib keldi Fizika bo'yicha Nobel mukofoti . Binnig ixtiro qildi atom kuchlari mikroskopi va birinchi tajriba tadbiqi Binnig tomonidan amalga oshirildi, Quate va Gerber 1986 yilda . • Savdoda mavjud bo'lgan birinchi atom kuchlari mikroskopi 1989 yilda paydo bo'lgan. AFM materiyani tasvirlash, o'lchash va boshqarish uchun eng yaxshi vositalardan biridir.

XULOSA Atom-kuch mikroskopi (AFM, ingl. AFM — atomic-force microscope) - nanometr va undan yuqori aniqlikdagi sirt relyefini aniqlashga qodir bo'lgan yuqori aniqlikdagi skanerlash zond mikroskopi. Skanerlash tunnel mikroskopidan farqli o'laroq, o'tkazuvchan va o'tkazuvchan bo'lmagan sirtlarni atom kuchi mikroskopi yordamida tekshirish mumkin. Atom kuchi mikroskopi 1982 yilda Gerd Binnig, Kelvin Kvayt va Kristofer Gerber tomonidan Tsyurixda (Shveytsariya) ilgari ixtiro qilingan tunnel mikroskopining modifikatsiyasi sifatida yaratilgan.

FOYDALANILGAN ADABIYOTLAR • Сканирующий атомно-силовой микроскоп — Википедия (wikipedia.org) • Atom kuchini mikroskopi (zahn-info-portal.de)

Купить